技術情報
生型材料及び生型試験法の基礎(改訂版)
株式会社ツチヨシ産業 水田豊昭・黒川 豊 |
5.シリカプログラム(Silica program)
■3-補正X線回折オーリチック試験法 1,2) |
従来のシリカプログラム分析では,オーリチック分と長石の分離定量が難しいことから,筆者らはX線回折を用いて,同一の生型砂の石英量と長石量を求め,オーリチックを計算する方法を確率している.
Fig.16にX線回折によるけい砂の石英と長石の回折チャートを示す.
オーリチックはガラス状物質であるために,X線の回折が生じないが,石英及び長石は鉱物であるために回折ピークが生じる.
これらを定量することで,生型砂中の石英量と長石量を知ることが可能である.
Fig.16にX線回折によるけい砂の石英と長石の回折チャートを示す.
オーリチックはガラス状物質であるために,X線の回折が生じないが,石英及び長石は鉱物であるために回折ピークが生じる.
これらを定量することで,生型砂中の石英量と長石量を知ることが可能である.

▲Fig.16 補正X線回折オーリチック試験法による石英と長石の回折チャート
Q:石英 F:長石
Fig.17に補正X線回折オーリチック試験によって求めた生型砂のオーリチック分を示す.
あわせて,低耐火度物質(長石を含むオーリチック)と長石を示す.
オーリチック分は6.9%が平均であり,およそ2~12%の範囲に多く分布していることが明らかとなっている.
あわせて,低耐火度物質(長石を含むオーリチック)と長石を示す.
オーリチック分は6.9%が平均であり,およそ2~12%の範囲に多く分布していることが明らかとなっている.

▲Fig.17 補正X線回折オーリチック試験によるオーリチック分
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