株式会社ツチヨシ産業

事業案内

現在のページは
ホームの下層の
事業案内の下層の
技術情報の下層の
技術情報②です。

技術情報

生型材料及び生型試験法の基礎(改訂版)

株式会社ツチヨシ産業 水田豊昭・黒川 豊

5.シリカプログラム(Silica program)

■3-補正X線回折オーリチック試験法 1,2)
従来のシリカプログラム分析では,オーリチック分と長石の分離定量が難しいことから,筆者らはX線回折を用いて,同一の生型砂の石英量と長石量を求め,オーリチックを計算する方法を確率している.
Fig.16にX線回折によるけい砂の石英と長石の回折チャートを示す.
オーリチックはガラス状物質であるために,X線の回折が生じないが,石英及び長石は鉱物であるために回折ピークが生じる.
これらを定量することで,生型砂中の石英量と長石量を知ることが可能である.

Fig.16 補正X線回折オーリチック試験法による石英と長石の回折チャート
▲Fig.16 補正X線回折オーリチック試験法による石英と長石の回折チャート
Q:石英 F:長石

Fig.17に補正X線回折オーリチック試験によって求めた生型砂のオーリチック分を示す.
あわせて,低耐火度物質(長石を含むオーリチック)と長石を示す.
オーリチック分は6.9%が平均であり,およそ2~12%の範囲に多く分布していることが明らかとなっている.

Fig.17 補正X線回折オーリチック試験によるオーリチック分
▲Fig.17 補正X線回折オーリチック試験によるオーリチック分


戻る

トップへ

次へ